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當(dāng)前位置：首頁(yè) > 產(chǎn)品中心 > 日置Hioki > 分析儀器 > IM7585阻抗分析儀
簡(jiǎn)要描述：HIOKI 阻抗分析儀IM7585高速、高穩(wěn)定性測(cè)量，提高生產(chǎn)量！測(cè)量時(shí)間：最快0.5ms，測(cè)量值偏差0.07%● 測(cè)量頻率：1MHz~1.3GHz● 測(cè)量時(shí)間：最快0.5ms（模擬測(cè)量時(shí)間）● 測(cè)量值偏差：0.07%（測(cè)量頻率1GHz時(shí)的代表值）● 基本精度：±0.65% rdg.● 緊湊主機(jī)僅機(jī)架一半大小，測(cè)試頭僅手掌大小
產(chǎn)品型號(hào)：IM7585廠(chǎng)商性質(zhì)：代理商更新時(shí)間：2025-06-06訪(fǎng) 問(wèn) 量：1027產(chǎn)品分類(lèi)CLASSIFICATION
詳細(xì)介紹
| 品牌 | HIOKI/日本日置 | 產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
● 測(cè)量頻率：1MHz~1.3GHz
● 測(cè)量時(shí)間：最快0.5ms（模擬測(cè)量時(shí)間）
● 測(cè)量值偏差：0.07%（測(cè)量頻率1GHz時(shí)的代表值）
● 基本精度：±0.65% rdg.
● 緊湊主機(jī)僅機(jī)架一半大小，測(cè)試頭僅手掌大小
● 豐富的接觸檢查功能（DCR測(cè)量、Hi-Z篩選、波形判定）
● 使用分析功能在掃描測(cè)量頻率、測(cè)量信號(hào)電平的同時(shí)進(jìn)行測(cè)量
| 測(cè)量模式 | LCR（LCR測(cè)量），分析（掃頻測(cè)量），連續(xù)測(cè)量 |
|---|---|
| 測(cè)量參數(shù) | Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q |
| 精度保證范圍 | 100 mΩ~5 kΩ |
| 顯示范圍 | Z: 0.00m~9.99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0.00 m~9.99999 GΩ) Ls, Lp: ± (0.00000 n~9.99999 GH) / Q: ± (0.00~9999.99) θ: ± (0.000°~999.999°), Cs, Cp: ± (0.00000 p~9.99999 GF) D: ± (0.00000~9.99999), Y: (0.000 n~9.99999 GS) G, B: ± (0.000 n~9.99999 GS), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %) |
| 基本精度 | Z: ±0.65 % rdg. θ: ±0.38° |
| 測(cè)量頻率 | 1 MHz~1.3 GHz (設(shè)置分辨率100kHz) |
| 測(cè)量信號(hào)電平 | 功率 (dbm)模式: -40.0 dBm~ +1.0 dBm 電壓 (V)模式: 4 mV~502 mVrms 電流 ( I )模式: 0.09 mA~20.02 mArms |
| 輸出阻抗 | 50 Ω (10 MHz時(shí)) |
| 顯示 | 彩色TFT8.4英寸、觸屏 |
| 測(cè)量時(shí)間 | 最快0.5ms（FAST、模擬測(cè)量時(shí)間、代表值） |
| 功能 | 接觸檢查、比較器、BIN判定（分類(lèi)功能）、面板讀取·保存、存儲(chǔ)功能、等效電路分析、相關(guān)補(bǔ)償 |
| 接口 | EXT I/O (處理器), USB通訊, U盤(pán), LAN RS-232C (選件), GP-IB (選件) |
| 電源 | AC 100~240 V, 50/60 Hz, 70 VA max |
| 體積和重量 | 主機(jī): 215W × 200H × 348D mm, 8.0 kg 測(cè)試頭: 90W × 64H × 24D mm, 300 g |
| 附件 | 電源線(xiàn) ×1, 測(cè)試頭 ×1, 連接線(xiàn) ×1, 使用說(shuō)明書(shū) ×1, CD-R (通訊使用說(shuō)明書(shū)) ×1 |
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